阻塞感應橋，因此該報告認為真空吸管必須為360 度， 陳英本技師認為在他看了圖6 、圖3A、圖3B，而得出「 真空吸管是360 度」。然從圖3A、圖3B、圖6 並不能看 得出來「真空吸管是環狀，而且為360 度」，伊認為陳 英本技師是誤解。（卷㈩第374-375 頁）等語，足見吳 洲平明確表示本件專利說明書( 含圖式) ，裡面完全沒 有要求真空吸管必須為360 度（參吳洲平技師筆錄第11 頁）。且吳洲平技師確認從本件專利圖3 、3A、圖3B、 圖6 完全看不出來元件(d) 的真空吸管必須為360 度， 陳英本技師係誤解。
⑺陳英本技師證述時亦承認本件專利圖3 、3A及圖3B並未 顯示真空吸管，他只是利用圖3 、3A及圖3B顯示阻塞感 應橋的位置（參陳英本技師筆錄第51頁）。關於圖6 ， 陳英本技師並未主張圖6 本身已顯示360 度真空吸管或 者顯示真空吸管通過阻塞感應橋。陳英本技師證述：雖 然圖6 指示單一斷面的斷面圖，他人可以推論測試板和 真空吸板的斷面圖均為相同，因此真空吸管必然為360 度等語，自不足採。除了圖6 確實為徑向斷面圖的事實 以外，陳英本技師無法提供證據支持其前述論點。陳英 本技師無法清楚解釋僅僅該斷面圖為徑向斷面圖就可推 論所有的斷面皆相同（參陳英本筆錄第51- 63頁）。顯 然本件專利並非所有的斷面皆相同。
⑻圖3B有助於解釋為何本件專利的真空吸管無需延伸為36 0 度。在元件被噴出後，元件的處理即已完成，因此真 空已無需要。一直到空的元件槽座，再次到達裝載新的 元件的裝載區域，才再次需要施加真空。參照圖3 ，當 測試板通過噴出區域（具有開孔(78)以及連接到開孔(7 8)之噴出管(84)的區域）後，即無須透過真空將元件固 持於槽座中，因為正常情況下元件應該都已被噴出，在 噴出區域之後應該沒有元件位於槽座中。在此區域施加 真空無任何作用。一旦測試板通過U 型阻塞感應橋並進 入載入區域(19)後，才再次需要真空促使元件進入元件 槽座中，並將其固持於其中。
⑼綜上，如吳洲平技師證詞所述，陳英本技師在99年5 月 報告中對元件(d) 的解釋，與智慧局與經濟部訴願委員 會對元件(d) 的解釋不同。後者並未限制真空吸管必須 延伸360 度。本案智財法院的行政訴訟判決書亦未限制 真空吸管必須延伸360 度。如吳洲平技師證詞所言，同 一專利的同一技術特徵在專利侵權訴訟中以及舉發行政 爭訟中的解釋應當相同，否則必然對兩造中其中一造形
成不公正（參吳洲平技師筆錄第27-28 頁），故陳英本 技師對技術特徵(d) 的解釋，實不足採，而應採智慧局 及訴願委員會對技術特徵(d) 的解釋。
⑽由於陳英本技師99年5 月報告對本件專利元件(d) 的解 釋有誤，而陳英本技師作出不侵權的結論大部分源自於 此一不正確的解釋，因此陳英本技師99年5 月報告，尚 有可議之處，果本件專利元件(d) 被正確地如智慧局及 訴願委員會所解釋時，則每一被控侵權機器均包含元件 (d)的所有技術特徵。
4、99年5 月份之鑑定報告認為技術特徵(d) 不符合文義讀 取有誤：
⑴ 基於對技術特徵(d) 的錯誤解釋，陳英本技師認定系爭 3 件機器並未包含相對於元件(d) 所載功能的對應結構 ，並進而認定侵權機器並未文義侵害本件專利的各請求 項。如在其陳英本技師99年5 月報告中所承認，每一侵 權機器均包含真空吸板(9) 、界定於真空吸板(9) 上表 面之真空吸管(11)、低壓源、及界定於測試板(8) 底部 之連結管道(13)（參99年5 月報告第32頁及第121 頁等 ）。亦即在陳英本技師其99年5 月報告中採用智慧局及 訴願委員會對元件(d) 的正確解釋，理應陳英本技師作 出技術特徵(d) 對被告系爭3 件機器均符合文義讀取的 結論。
⑵ 縱認陳英本技師對技術特徵(d) 的對應結構包含360 度 的真空吸管的解釋無誤，陳英本技師認為技術特徵(d) 不符合文義讀取之結論仍屬不當。查陳英本技師於其99 年5 月報告中，並未依據細則18條第8 項之規定解釋以 手段功能用語撰寫的技術特徵(d) 。如上所述，細則18 條第8 項規定，解釋以手段功能用語方式記載的技術特 徵時，應包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、 材料或動作及其均等範圍。陳英本技師在其99年5 月報 告第12頁引用鑑定要點第33頁：「以功能界定物或方法 之申請專利範圍，請求項中並未記載對應的結構、材料 或動作，而係以功能手段用語或步驟功能用語表示…因 此解釋申請專利範圍時，該技術特徵僅能包含發明（或 新型）說明實施方式中對應於該功能之結構、材料或動 作，及該發明所屬技術領域中具有通常知識者不會產生 疑義之均等物或均等方法，以認定其專利權範圍」。根 據專利侵害鑑定要點第29頁的流程圖，針對細則第18條 所規定手段功能用語特徵解釋的均等範圍分析部分先於 文義侵權分析，因此顯然與在文義侵權分析之後的均等
論分析不同。如吳洲平技師的證詞亦確認針對細則第18 條所規定手段功能用語特徵解釋的均等範圍分析與均等 論分析不同（參吳洲平技師筆錄第16頁）。然而陳英本 技師在文義讀取的分析中，完全未考量侵權機器的真空 吸管，是否與被告所稱本件專利360 度的真空吸管屬均 等物。陳英本技師99年5 月報告中文義讀取的分析中， 並未包含細則規定之均等物分析，此顯係該報告之另一 瑕疵。
⑶ 即使將本件專利的技術特徵(d) 解釋為360 度，系爭3 件機器的真空吸管為本件專利真空吸管的均等物。技術 特徵(d) 的本身已清楚說明其功能為：「將元件固持於 其槽座中」，系爭3 件機器的真空吸管及其他真空結構 亦具有與請求項中所記載完全相同的功能。此外，系爭 3 件機器的真空結構實現該功能的手段及所實現的結果 與本件專利所描述的手段實質相同，達成的結果也實質 相同。系爭3 件機器的真空吸管，將元件在其預先規劃 在槽座中整個期間（即自元件載入測試板至他們被噴出 的期間），施加半真空至元件，並將其固持於元件槽座 中。陳英本技師亦知悉系爭3 件機器的半真空吸引機構 ，具有從載入區域，經由電子測試、噴出及測試板移動 等過程，將元件固定於槽座中的功能（參99年5 月報告 第66頁右欄功能分析欄位）。如果本件專利的真空吸管 ，如被告指稱，係由噴出區域延伸至阻塞感應橋，此一 區域的真空吸管將無功用，因為測試板旋轉到此一區域 時，應該沒有元件位於槽座中，因此真空無需於此區域 固持元件於槽座中。因此，系爭3 件機器在此一小區域 無真空吸管的影響微不足道且並不影響系爭3 件機器的 產量。
⑷原告依照本件專利所製造的測試機中的真空吸管，亦非 360 度。原告的前述3300以及3340測試機一如系爭3 件 機器一樣，其真空吸管並未自噴出區域延伸到阻塞感應 橋(參 本狀第參、二節)
5、陳英本技師認為技術特徵(d) 不符合均等論分析有誤 ⑴技術手段：陳英本技師均等論分析中的「技術手段」分析 有誤。
①陳英本技師再次依據其對技術特徵(d) 對應結構「必需包 含360 度的真空吸管，並通過阻塞感應橋」的解釋進行此 項分析，導致其於此之技術手段分析亦為錯誤。 ②陳英本技師對系爭3 件機器操作的描述存在事實上的錯誤 ，99年5月報告中對系爭3件機器作出以下描述：
「測試板旋轉期間，坐落於弧形狀開口相對應之槽座中之 元件，因無真空吸管導通半真空吸力，無法固定，有脫離 之風險」（99年5 月報告第65頁右欄）。惟查，上述描述 並非事實，侵權機器中，真空吸管經由連結管道將真空傳 遞至元件直至元件自其槽座中被噴出為止。因此，在系爭 3件機器中，除非元件被卡住或機器故障，元件不會一直 位於槽座中被旋轉至沒有真空吸管的小區域；此外，元件 不會因為此一沒有真空的小區域，而有脫離槽座的風險， 於正常情形下，元件在到達此一區域前均已經被噴出。 ③陳英本技師誤解訴願決定書中關於習知技術CH1200機器凹 槽(N) 部分之敘述，亦即陳英本技師將系爭3 件機器11/1 2圓的真空吸管，與習知技術1/3 圓的凹槽(N) 相互比擬 ，顯有不當。訴願委員會為區隔本件專利的真空吸管與習 知技術的凹槽(N) ，作出以下說明：「本件專利之元件位 於槽座的整個期間可施予真空，並將元件固持於槽座中， 直到元件被噴出」（訴願決定書第17頁第7-9 頁）。前述 凹槽(N) 無法實現此一功能。而侵權機器的真空吸管與本 件專利的真空吸管相同，均允許在元件位於槽座的整個期 間施予真空，並將元件固持於槽座中，直到元件被噴出。 此實與習知技術不同，系爭3 件機器的真空吸管延伸足夠 的長度，以執行本件專利真空吸管的相同功能。 ④陳英本技師在其99年5 月報告中所作的陳述：「此一差異 不易為該發明所屬技術領域中具有通常知識者所能輕易完 成」並無根據。陳英本技師所稱差異，應指系爭3 件機器 11/12 圓（亦即330 度）之真空吸管與被告所稱本件專利 360 度真空吸管間之30度差異。陳英本技師並未解釋為何 該發明所屬技術領域中具有通常知識者，不能輕易將侵權 機器11/12 圓真空吸管延伸而成一完整的圓形。這種在度 數上的延伸，在技術上並不存在困難度。就另外一個角度 而言，把360 度真空吸管改成11/12 圓真空吸管，亦非困 難。若陳英本技師充分了解系爭3 件機器的真正運作情況 ，及本件專利的半真空吸引機構，陳英本技師應該會作出 侵權機器的半真空吸引機構與本件專利的半真空吸引機構 實質相同的結論。系爭3 件機器的半真空吸引機構與依本 件專利製作之原告型號3340機器的半真空吸引機構非常相 似（參原證6 號的內容與照片）。
⑵功能與效果
陳英本技師在均等論分析的功能與效果部分係基於其所稱系 爭3件侵權機器與本件專利申請專利所載之發明，在操作期 間元件行為的差異。吳洲平技師與陳英本技師均證述並未實
際觀察系爭3 件機器的運作（參陳英本技師筆錄第78頁以及 吳洲平技師筆錄第34頁）。陳英本技師對於通過噴出區域但 未自槽座中噴出之元件的行為的描述顯然錯誤。吳洲平技師 作為機械工程領域的專家，證述陳英本技師對於未被噴出元 件的兩種情況的描述應不會發生，且認為陳英本技師在其99 年5 月報告中關於上述兩種情況的描述違反常理。即使是陳 英本技師當被詢問相關問題時，亦承認此兩種情況發生的機 率非常的小，也無法對此不太可能發生的情況提出說明，而 只能以「此為一複雜模式」等語交代。此外，即使事實的情 況真如陳英本技師所描述，系爭3 件機器的真空吸引機構與 本件專利的真空吸引機構應屬均等，而系爭3 件機器與本件 專利在元件(d) 的部份有均等論的適用。依照如吳洲平技師 證詞中進行正確的分析，可得出陳英本技師所指稱系爭3件 侵權機器與本件專利間的差異實為微不足道，而此兩者應有 均等論的適用。則99年5 月陳英本技師之報告，其結論自不 足採。
⑶陳英本技師99年5月報告事實分析有誤
①陳英本技師製作的99年5 月報告中描述了兩種陳英本技師 指系爭3 件機器中，元件通過噴出區域但未被噴出的情況 ：
①元件卡在測試盤的槽座中因此未被噴出及②元件未被卡 住但也未被噴出，但陳英本技師對此兩種情況的描述有誤 。根據陳英本技師99年5 月報告，在上述第一種情況中， 卡在測試盤的槽座中的卡料元件會因自有施加真空至元件 的區域至無施加真空的區域時變成無卡料狀況。在前述第 二種情況中，未卡料但也未被噴出的元件會在經過無施加 真空的區域時自槽座掉落出而刮傷測試板。陳英本技師所 製作的補充意見中改變說法，指稱掉落的元件可能刮傷測 試板或者真空吸板。陳英本技師製作的99年5 月報告中所 描述的兩種情況皆錯誤。
②關於第一種情況，元件偶爾會卡在元件槽座中，因此而未 被噴出機構噴出。在此情況下，此元件會被阻塞感應橋偵 測到。此時操作者可以將機器停下來，以人工方式將卡住 的元件自測試板移除。然而，在系爭3 件機器中，卡住的 元件不會因為其自有真空施加處移動至無真空施加處而變 得無卡住，但99年5 月報告第67頁右欄第2 點卻認為會變 成無卡住。在噴出區域，若元件沒有卡在元件槽座中，噴 出空氣具有足夠之壓力，以克服經真空吸管所傳導的半真 空吸力（說明書第17頁第5-6 行）。如果具有比真空吸力 更大的噴出空氣壓力，仍無法將槽座中的元件噴出，此時
如僅僅將真空移除，並不會讓元件變成無卡住。因此，真 空是否持續施加到元件，並不影響卡住的元件的情況，且 不會改變卡住的結果。
③關於第一種情況，吳洲平技師證述：當元件未被噴出時， 表示遠大於真空吸力的噴出力量仍然無法將元件噴出時， 元件必然緊緊地卡在測試盤的槽座中。因此，當施加到元 件上的真空吸力被移除時（元件被測試板傳送至無真空吸 管區域），元件的狀態並不會改變，即元件完全不可能會 變成無卡料狀態（吳洲平技師筆錄第36頁本院卷十第381 至385 頁）。
④陳英本技師之證詞，無法解釋為何卡在測試盤的槽座中的 元件在遠大於真空吸力的噴出力量都無法將元件噴出時會 僅僅因為真空吸力的移除（元件被測試板傳送至無真空吸 管區域）且無其他額外外力施加到元件上的情況下而變成 無卡料狀態。相反地，陳英本技師回答此一問題時，他僅 證述：這是一個很複雜的一個模式，不是很單純的比對大 小就可以解決的一個數學模式（參陳英本技師筆錄第89頁 ）。陳英本技師並承認在上述第一種情況下，元件當然有 可能仍然維持卡住狀態，而且他也不知道相關發生的機率 有多少（參陳英本技師筆錄第89頁）。
⑤關於陳英本技師99年5 月報告中所假想的第二種情況幾乎 不會發生。吳洲平技師證述：元件如果沒有卡在槽座中通 常一定會被噴出，而且幾乎不可能不會被噴出（參吳洲平 技師筆錄第28-29 頁）。只有在機器故障時才會有元件未 被卡住但也未被噴出的情況發生，而根據原告的估計，這 種機率小於千分之一。
⑥陳英本技師當被詢問到關於第二種情況的問題時，陳英本 技師無法明確的回答除了機器故障以外，為何未被卡住的 元件會未被噴出( 參陳英本技師筆錄第81-85 頁）。機器 故障並非機器的正常運作情況，因此機器故障的因素應該 排除在鑑定之外。陳英本技師證述元件未被卡住但也未被 噴出的情況可能與每個chip大小、顆粒，也有一點關係（ 參陳英本技師筆錄第82頁）。但為何元件的大小和顆粒或 形狀會如陳英本技師所述，使得未被卡住的元件未被噴出 。不正常的尺寸或許會使的元件卡在槽座中，但如果沒有 卡在槽座中就應該會被噴出。陳英本技師無法解釋為何這 樣的元件會未被卡住也未被噴出。此外，陳英本技師承認 只有極小的情況下未被噴出的元件會掉出槽座並刮傷測試 板（參陳英本技師筆錄84頁）。足見依陳英本之證詞，其 在99年5 月報告中，元件未被卡住但也未被噴出之相關主
張，不足採信。
⑦如果未卡住且未被噴出的元件真的掉落，掉落的元件並不 會如陳英本技師99年5 月報告及陳英本技師的補充意見所 稱刮傷測試板。如果真的有未卡住且未被噴出的元件，其 仍應會基於重力作用繼續留在槽座中，即使自測試板掉落 ，也會直接掉入收集托盤。掉落的元件不會刮傷測試板。 測試板是以不易被刮傷的材質所製成，且測試板被設計成 允許元件在其表面滾動進而進入槽座中。此外，掉落的元 件亦不會卡住測試板，因為測試機在設計時即避免此一問 題發生的可能性。吳洲平技師證述：由於元件的尺寸遠小 於測試盤與機器間的距離，即使真的有元件掉落，也不會 造成元件卡在機器與測試板之間並使得元件刮傷測試板（ 參吳洲平技師筆錄第30頁）。惟陳英本技師無法解釋何以 尺寸遠小於測試盤與機器間的距離的元件會卡住並刮傷測 試板（參陳英本技師筆錄第81頁）。
⑧陳英本技師在其補充意見中，指元件會掉落並刮傷真空吸 板，不但沒有任何證據證明。蓋陳英本技師並未標示照片 何處有刮痕，其次，即使真空吸板上真有刮痕，該刮痕也 不可能是由掉落的元件所造成。測試板基本上覆蓋整個真 空吸板的表面( 真空吸板只有靠最外緣徑向約0.6 公分的 部份沒被測試板覆蓋住) 。此外，由於元件的尺寸遠大於 測試板以及真空吸板之間的空隙，元件無法自槽座掉落後 進入測試板以及真空吸板之間的間隙。如本件專利圖6 所 示，相較於元件(12)較大的尺寸，測試板(8) 以及真空吸 板(9) 之間的間隙非常小。
⑷ 陳英本技師99年5月報告法律分析有誤
①縱令陳英本技師99年5 月報告中的所陳述的兩個以上情況 屬實，其均等論的分析在法律上仍屬不當。陳英本技師在 其補充意見說明(6) 中重複陳英本技師99年5 月報告中違 反智財法院判決的均等論分析如下：
330 度對卡料無噴出之元件，於旋轉通過無真空吸管區， 無法導通真空吸力，改變了元件受力狀態，可能變成無卡 料狀況，於測試板下一旋轉行程時元件被噴出，減少卡料 機率，真空吸管360 度的技術無此功能，陳英本技師作證 期間，原告代理人向陳英本技師提示智慧財產法院的一個 判決( 參原證104 號) ，其中法院指出：不可以用待鑑定 物有增進本件專利的功效，率然認定為不構成均等論的適 用，因為均等論的適用，跟待鑑定物有沒有增進本件專利 的功效是無關的。陳英本技師亦表示同意該判決的見解( 參陳英本證詞筆錄第90-91 頁) 。原告代理人並向陳英本
技師表示上述99年5 月報告均等論分析中加底線部分的分 析與結論( 即：真空吸管360 度的技術無此功能) 顯然違 反此一判決，而陳英本技師同意重新作一個均等論分析( 參陳英本證詞筆錄第95頁) 。然而陳英本技師的補充意見 的均等論分析在沒有任何的說明之下，仍然保留「真空吸 管36 0 度 的技術無此功能」此一違反智財法院判決（參 上方加底線處）的分析與結論。前述加底線部分違反智財 法院判決的原因，在於其認為系爭3 件機器的半真空吸引 機構與本件專利半真空吸引機構不均等的理由，在於系爭 3件機器的半真空吸引機構具有本件專利半真空吸引機構 所沒有的功效，即陳英本技師所稱系爭3 件機器於元件旋 轉通過無真空吸管區可使卡料元件變成無卡料，而具有36 0度真空吸管的機器無此功能。
②陳英本技師的上述分析亦違反專利侵害鑑定要點而屬不當 法律分析。根據專利侵害鑑定要點第41-42 頁規定：「『 均等論』係基於保障專利權人利益的立場，避免他人僅就 其申請專利範圍之技術特徵稍作非實質之改變或替換，而 規避專利侵權的責任。」，系爭3 件機器若只稍作非實質 之改變或替換則仍應被認定均等論侵權。
③陳英本技師的證詞顯示即使上述兩種情況發生其發生的機 率非常之小。因此，即使在本件專利的真空吸管被解釋成 360 度的條件之下，系爭3 件機器與本件專利的差異必屬 非實質之差異。陳英本技師作證元件未被機器噴出的機率 約為萬分之一( 參陳英本技師筆錄第35頁) 。換言之，即 使上述情況發生，根據陳英本技師的證詞其機率至多也只 有萬分之一。陳英本技師進一步證述翻滾的元件刮傷測試 板的機率約千分之一或萬分之一( 參陳英本技師筆錄第84 頁) 。因此，如原告民事準備書( 二十五) 狀第9 頁所述 ，陳英本技師的證詞證實只有千萬分之一或億分之一的元 件有可能同時如前述兩種情況未被噴出且刮傷測試板。 ④吳洲平技師在99年11月4 日證述如果系爭3 件機器與本件 專利的差異發生的機率之有萬分之一時，這種機率趨近於 零( 參陳英本技師筆錄第31-32 頁：吳洲平技師說明刮傷 測試板的機率趨近於零) ，而應認定系爭3 件機器與本件 專利「均等」。吳洲平技師進一步指出如認定本件專利因 為有360 度的真空吸管所以不會造成測試板被元件刮傷， 而系爭3 件機器未被噴出且刮傷測試板的機率是千萬分之 一或億分之一時，這兩者的差異他不認為是實質上的差異 ，且一般機構不會因此而認定不侵權。吳洲平技師因此認 為陳英本技師異於一般侵害鑑定機構的作法「比較不合適
」( 參吳洲平技師筆錄第32頁) 。因此，即使有人認為陳 英本技師所描述的兩種情況的事實描述屬實，依據吳洲平 技師的證詞，被告的被控侵權機器仍應被認定均等論侵害 本件專利。若因如此之小的差異發生機率且對整體機器而 言功能上無任何影響的情況之下，認定兩者不構成均等論 侵權對原告並不公平( 參吳洲平技師筆錄第32頁) 。 ⑸陳英本技師針對元件(d) 的均等論分析係基於不正確的事 實認定以及不當的法律分析，則陳英本技師製作的99年5 月報告以及補充意見除了解釋申請專利範圍以及文義侵權 分析的部份不應被採納外，其均等論的分析與結論也不應 被採納。
⑹陳英本技師在考量系爭3 件機器的真空吸管的功能時，以 極少發生的情況，認定系爭3 見機器不侵權，這樣的情況 若發生，也是屬於機器功能的異常情況。陳英本技師應考 慮本件專利真空吸管設計所要達成的功能，亦即記載於技 術特徵(d) 的功能：將元件固持於其槽座中。系爭3 件機 器的真空吸管與本件專利的真空吸管，同樣在於元件預先 規劃於槽座中的整個期間，施加半真空吸力至元件以固持 元件於槽座中，直至元件被噴出。若陳英本技師依據適當 的均等論分析，應會作出系爭3 件機器的真空吸管與本件 專利技術特徵(d)的真空吸管採用實質相同的技術手段、 達成實質相同的功能並產生實質相同的效果的結論，且侵 權機器的真空吸管與本件專利技術特徵(d) 的真空吸管， 並不存在實質差異。因此，依據適當的均等論分析，針對 本件專利技術特徵(d) ，被告的三件侵權機器均適用均等 論。
⑺綜上，陳英本技師認定本件專利的技術特徵(d) 既無法在 任一系爭3 件機器上文義讀取到，亦不符合均等論分析等 情，並不足採。由於本件專利元件(d) 係99年5 月報告中 唯一一項認定在被控侵權機器RK-T6600及RK-T2000中，既 不符合文義讀取，又不符合均等論分析之元件。系爭3 件 機器RK-T6600及RK-T2000應被認定侵害本件專利。 6、先前技術阻卻並不適用本案
⑴在陳英本技師的補充意見說明(6) 中，陳英本技師提出新 的先前技術阻卻，抗辯不侵權理論。陳英本技師在沒有任 何的依據之下，認為「假設真空吸管330 度與360 度的技 術是用均等論，則依專利侵害鑑定流程，對真空吸管330 度亦應有先前技術阻卻未侵害真空吸管360 度的專利權之 判斷」。
⑵根據專利侵害鑑定要點第44頁，「先前技術阻卻」得為「
均等論」之阻卻事由；即使待鑑定對象適用「均等論」， 若被告主張適用「先前技術阻卻」，且經判斷待鑑定對象 與某一先前技術相同，或雖不完全相同，但為該先前技術 與所屬技術領域中之通常知識的簡單組合，則適用「先前 技術阻卻」；待鑑定對象適用「均等論」，且適用「先前 技術阻卻」，應判斷待鑑定對象未落入專利權範圍。專利 侵害鑑定要點第44頁同時規定：主張「先前技術阻卻」有 利於被告，故應由被告負舉證責任。若被告未主張「先前 技術阻卻」，他人不得主動提供相關先前技術資料，以判 斷待鑑定對象是否適用「先前技術阻卻」。足見「先前技 術阻卻」適用的先決條件為被告需先提供先前技術證據並 且主張「先前技術阻卻」，其次被告需證明系爭3 件機器 與該先前技術證據相同或實質相同。惟無論是99年5 月報 告或者是補充意見均未指出任何被告所提出並主張先前技 術阻卻的先前技術證據具有330 度真空吸管並與RK-T6600 與RK-T2000機器完全相同或者實質相同，此有上開報告及 補充意見附卷可證( 卷外及本院卷十二第75至78頁) 。則 對於本案「先前技術阻卻」無適用的餘地。綜上，補充意 見說明(6) 違反專利侵害鑑定要點的規定。先前技術阻卻 抗辯並不適用本案。
7、陳英本技師認定RK-L50沒有侵害本件專利請求項2 至10， 並不正確。陳英本除了認定RK-L50沒有使用元件(d) 外， 尚認定：根據文義讀取及均等論分析，RK-L50沒有使用元 件(c) 及元件(e) ，RK-L50確有使用此等元件，且侵害請 求項2 至10。陳英本技師錯誤地認定元件(c) 無法在RK-L 50的機器上文義讀取到。
⑴陳英本技師解讀元件(c) 並不足取：元件(c) 是以功能手 段用語撰寫的，即其為：「在環座旋轉所經的路徑中，用 以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構」。智慧 局及訴願委員會認為本件專利對應於元件(c) 的結構為： 複數個坐入柵板(108a-108d)(參舉發審定書第12頁；訴願 決定書第15頁) 。在99年5 月報告中，陳英本技師認定元 件(c)的說明書對硬結構是4 個坐入柵板。陳英本技師在 其補充意見中承認錯誤並將元件(c) 說明書中的對應結構 為「複數個坐入柵板，其數目配合複數個元件環座」。 ⑵陳英本技師未能認知RK-L50包括一個坐入柵板：在99年5 月報告中，陳英本技師未能認知RK-L50在其測試板的外側 ，亦有一坐入柵板。陳英本技師將該機器的「坐入柵板」 及「與其接附在一起的透明蓋板」合稱為「弧形封閉蓋板 」（參99年5 月報告第150 頁等），認定有誤。蓋在RK-L
50照片中下方的弧形黑色結構，就是坐入柵板。如該照片 所示，該弧形黑色結構與測試板的（元件槽座的）單一環 相鄰且位於其外側，其位置在垂直方向稍高於測試板，就 如同本件專利的坐入柵板（見說明書第19頁第10及11行） 。當RK -L50 運轉起來後就可以發現，該弧形的黑色結構 是用來「承收一元件流路並使元件歸位於槽座中」（亦即 本件專利的元件(c) ）。
⑶陳英本技師未運用鑑定要點及細則第18條第8 項之規定： 以RK-L50的透明蓋板附接到其坐入柵板無法改變以下事實 ：該弧形的黑色結構就是坐入柵板，其實施了本件專利的 元件(c) 。添加額外的特徵（即透明蓋板）到該坐入柵板 ，仍無法避免侵害本件專利。因此，陳英本技師的結論（ 即元件(c) 沒有出現在RK-L50中）導源於未能適切地運用 鑑定要點及細則第18條第8 項之規定。
① 陳英本技師忽略了鑑定要點中規定的「對應規則」， 所以未適切找到正確的結構來加以評估。根據細則第 18條第8 項之規定，關於以手段功能語言表示的技術 特徵，於解釋申請專利範圍時，應含發明說明中所敘 述對應於該功能之結構、材料或動作及其均等範圍（ 即「對應規則」）。亦即，依據鑑定要點之下篇、第 三章、第二節、第2.2 點（標題為：「解析待鑑定對 象之技術內容」）之規定：「解析待鑑定對象所得之 元件、成分、步驟或其結合關係與申請專利範圍之技 術特徵必須對應，待鑑定對象中與申請專利範圍之技 術特徵無關的元件、成分、步驟或其結合關係不得納 入比對內容。解析技術特徵時，通常得依申請專利範 圍的文字記載，將請求項中能相對獨立實現特定功能 、產生功能的元件、成分、步驟或其結合關係設定為 技術特徵。」（請見鑑定要點第36頁末段及37頁首段 ）。
②根據鑑定要點，陳英本技師應先找出RK-L50的那一個 結構執行元件(c) 之功能（亦即，承收一元件流路並 使元件歸位於槽座中），才可開始對元件(c) 進行評 估。依此「對應規則」找出的結構，才是元件(c) 的 對應結構，之後才可依此找出的結構進行分析比對。 RK-L50中其他不執行上述元件(c) 之功能的結構，則 不應列入考慮，因為此種結構不「相應獨立」實現元 件(c)的「特定功能」。
③在RK-L50中，陳英本技師將不對應的結構稱為「弧形 封閉蓋板」，該所謂的「弧形封閉蓋板」是由以下兩
種結構組合而成：「黑色的弧形坐入柵板」及「透明 的蓋板」，而該透明蓋板附接至該弧形坐入柵板，且 RK-L50的弧形坐入柵板執行承收及歸入電子元件的功 能。因此，應就該黑色的弧形坐入柵板進行分析；而 該透明蓋板執行的是第二種或不同的功能，該不同的 功能是防止電子元件飛離測試板。雖然該透明柵板附 接至其坐入柵板，但是其功能並不對應於本件專利元 件(c) 的承收及歸位的功能。因此，根據鑑定要點， 該透明蓋板根本與侵害鑑定無關。陳英本技師將該黑 色弧形坐入柵板與無關的透明柵板結合起來，而未單 獨依該黑色弧形坐入柵板進行分析，此種分析方式， 尚屬有誤。
⑷元件(c)可於RK-L50中文義讀取：
①在文義侵權分析中，陳英本技師未考慮RK-L50的蓋子是 否為本件專利柵板的均等物。由於技術特徵(c) 系以手 段功能用語撰寫，文義侵權分析中，需考慮專利法細則 18條所規定的「均等範圍」分析。依據專利法細則第18 條的規定，於解釋手段功能用語特徵時，包含發明說明 中所敘述對應於該功能之結構、材料或動作及其「均等 範圍」。
②當RK-L50的適當結構（即弧形的坐入柵板）被考慮到時 ，顯然此種結構均等於本件專利之複數個坐入柵板。本 件專利在說明書中明確的揭露本發明思及如RK-L50，採 用單一環座的設計。本件專利說明書敘述：「一個具有 一或數個同心圓環座之元件裝卸裝置」( 第5 頁倒數1- 2 行) 。本件專利說明書並進一步教示柵板數目與環座 數目相配合：「各柵板之配置為緊鄰並沿著其相對應的 環座面板上槽做外面板側」( 第6 頁倒數8-9 行) 。因 此，根據本件專利說明書，在只有包含一個環座的機器 ，僅需位於該單一環座外側的單一柵板以將元件承收以 及歸位於槽座中。在單一環座的情況下，單一柵板與使 用於複數個環座的複數個柵板符合細則18條的均等。 ③RK-L50的柵板，就像本件專利的坐入柵板，也是弧形的 ，而且是位於元件槽座的環座的外側且位於測試板的上 方，以允許測試板可在該坐入柵板的下方輕易地轉動。 實則，RK-L50的坐入柵板就是本件專利的最外側的坐入 柵板。RK-L50的坐入柵板執行與本件專利的坐入柵板記 載於技述特徵(c) 相同的功能：承收及歸位元件，並以 實質相同的技術手段達成實質相同的結果。就像本件專 利中「該測試板以順時鐘方向旋轉且因重力各座入槽的
座元件持續地以不同方向，沿著坐落柵板，翻滾於沿環 座旋轉所經路徑空槽座上直到元件最後落入槽座中為止 。」多個坐入柵板的差別僅在於：用超過一個坐入柵板 ，於同時間執行同一個功能而已；然而，每一個坐入柵 板一如RK-L50的單一坐入柵板，都可獨立地執行將電子 元件歸入與柵板相鄰且位於柵板內側的槽座中( 說明書 第19頁第10-11 行) 。
④在99年5 月報告中，關於RK-T6600，陳英本技師認為3 個坐入柵板與4 個坐入柵板實質上相同（見該鑑定報告 第62頁等）。同樣地，如上所述，一個坐入柵板也與超 過一個坐入柵板實質相同。因此，RK-L50的單一柵板與 技術特徵(c) 有均等論的適用。
⑤依據添加原則，RK-L50包括額外的特徵不影響其侵權事 實：
Ⅰ陳英本技師在其99年5 月報告以及補充意見說明(7) ，均以：「本專利為複數個坐入柵板機構，配合複數 個元件環座，設有複數個柵板，為開放式無頂蓋者； 帶鑑定對象C 為僅有一個弧形蓋板機構」為理由認為 RK-L50的弧型柵板不均等於本件專利的柵板。陳英本 技師的上述分析包括事實上的錯誤及法律上的錯誤。
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