│ │ │其他方法來固│ │
│ │ │結表面飾件 │ │
└───┴──────┴──────┴──────┘
⑷以上均等論之分析比對結果，系爭產品之遮擋柱所使用之 固結技術手段、功能、以及效果，與系爭專利之專利範圍 之第1 項（獨立項）之固結技術手段、功能、以及效果， 兩者皆非實質相同，兩者非為均等。系爭產品並未落入系 爭專利範圍獨立項之均等範圍。且由於系爭產品未被系爭 專利之專利範圍之獨立項所涵蓋，就系爭專利之專利範圍 之第2 、3 、4 項( 附屬項) 而論，系爭產品亦未落入系 爭專利之專利範圍第2 、3 、4 項之均等範圍。 ⒉原判決係認定台大慶齡工業研究中心之鑑定報告雖未做均等 論分析，但該鑑定報告之結論仍係正確。就原判決此部分前 後全部文義以觀，無任何矛盾之處：
⑴台大慶齡工業研究中心之鑑定報告，負責撰寫之鑑定人劉 霆於本件刑事案件曾出庭作證，該案台灣士林地方法院87 年度自字第365 號刑事判決第6 頁載明「負責鑑定撰寫台 大慶齡工業研究中心專利鑑定服務報告之證人劉霆雖亦到 庭供證第86837 號新型專利部分，送鑑物品組成部分即屋 頂、面板、底板均與專利是相同的，但在組裝遮擋柱的技 術手段，送鑑物是利用二個侵入法把它切進去，跟專利範 圍所說的『其上端設有卡合部，下端設有彈性卡拴』二者 的技術手段明顯不同，專利之彈性卡拴目的是要把遮檔柱 固定住，而且是可以很輕易的能夠從前方就把它裝進去， 裝進去後還要它不可以拿出來，但送鑑物只是用二個橡膠 把它裝進去，可以拔出來，他沒有固定卡死的功能，而且 它的位置及技術手段不同，所以鑑定認為明顯不同；又遮 檔柱的構造特徵，專利說遮檔柱上邊會有一個卡合部，但 送鑑物的遮檔柱是平平的擺進去，所以結論認為與專利範 圍並不相同未被涵蓋。」
⑵證人劉霆於該刑事案件89.12.20審理時自訴代理人詢問： 「所謂技術並不均等，是不是熟知該項技術的人，都能夠 做到輕易的變更？」證人劉霆答稱「做到輕易的變更，同 時還要做到達到相同的效果，如果效果不同，就均等論而 言，就沒有比對的價值了。我為何說他效果不同，在甲案 裡它是把它扣進去的，從前方進到他的滑接部、接合部， 把它卡在裡頭，然後利用彈性體將卡塊頂出來，將阻擋柱 固定住鎖定住。而乙案，我看到的是安上去的，他並沒有 鎖死固定的效果，所以效果不相同，就這個部分根據我看 到其他的比對，應該是說二樣東西，他們的技術手段不同
，他們的功效不同，所以到這裡，他們的均等論應該是完 全不存在的。」
⑶台大慶齡工業研究中心鑑定報告，負責撰寫之鑑定人劉霆 係經鑑定認為，上訴人主張之專利面板，與待鑑定物品「 應該是說二樣東西」，即功效不同、技術手段不同，既為 不同的二樣東西，「均等論應該是完全不存在的」；也就 是認為無庸再就均等論分析，因為與專利範圍並不相同未 被涵蓋，根本「沒有比對的價值了。」
⑷原判決認定上訴人主張之專利面板，與待鑑定物品專利範 圍並不相同未被涵蓋，因此認為台大慶齡工業研究中心鑑 定報告為可採，只是認為雖二者專利範圍並不相同，但仍 應為均等論之分析而已；也就是，台大慶齡工業研究中心 鑑定報告縱未做均等論分析，但仍無礙於鑑定報告之結論 正確。原判決就此不但並無理由矛盾之處，且原判決亦已 就該二物品做均等論之分析，即已載明「兩者係以實質不 相同之技術手段，達成不相同的功能與效果，故二者非為 均等物。」上訴人之上訴主張，實無理由。
⑸刑事判決第5 頁即理由甲一㈢1.載明「負責鑑定撰寫上開 台北技術學院機械系及中國機械工程學會專利侵害鑑定報 告之證人黎文龍、徐雅威於本院均結證系爭物品並未如新 型專利第86837 號『塔櫃表面飾件之固結構造』所示面板 上有『彈性卡拴』，在柱體上也沒有『卡槽』，在全要件 原則下並非相同…」。尤足證，上訴人主張之專利面板與 待鑑定物品專利範圍並不相同未被涵蓋，被上訴人並無任 何侵害上訴人專利情事。
⑹本案刑事部分，業經台灣高等法院90年度上易字第1192號 判決，撤銷台灣士林地方法院87年度自字第365 號關於被 上訴人等違反專利法有罪之刑事判決，並判決免訴確定； 故本案一審刑事判決，不但不得做為被上訴人等有侵害專 利權之依據，原審判決亦未與本案刑事確定判決，有任何 歧異。
⑺被上訴人未侵害上訴人專利權，亦未販售系爭面板： ①上訴人主張侵害其專利權之面板，係由益隆公司李振賢 製造，李振賢於原審94.12.7 及98.2.9審理時均稱「是 福座公司提供石膏模，由我來開模並生產成品賣給福座 公司…」、「他們給我是整塊的石膏成品，是我把成品 切割後研究如何設計模具…」、「…當時是被告福座開 發股份有限公司與被告益隆精密壓鑄有限公司簽約，請 被告益隆精密壓鑄有限公司壓鑄吉祥如意的面板，他拿 一些石膏的樣品給我看，樣品是石膏做的，真正的成品
是鋁壓鑄的，雙方是約定由被告益隆精密壓鑄有限公司 做出跟石膏一樣的成品，但是是鋁做的，壓鑄用的模具 是我們公司研發的…」。可證系爭面板是由益隆公司自 行研究、設計、製作，並係益隆公司生產製造系爭面板 後，銷售予被上訴人福座公司使用。足證，被上訴人福 座公司根本無侵害上訴人專利權情事。且實際生產製造 及販賣之益隆公司與其負責人等，上訴人刑事部分並未 提出告訴，附帶民事部分亦因不合法而裁定駁回，尤足 證，上訴人以被上訴人福座公司為共同侵權行為人，提 起本件刑事附帶民事訴訟，不但不合法，且無理由。 ②系爭吉祥型及如意型面板是被上訴人福座公司向益隆公 司購買使用，被上訴人福座公司並無販售獲利情事；被 上訴人福座公司販售者為塔位使用權，而非面板；該塔 位之所有權仍為被上訴人福座公司所有。故該塔位之面 板是被上訴人福座公司提供塔位使用者之設備，正如同 塔位所在之寶塔不動產，其所有權仍為被上訴人福座公 司所有，而非塔位使用權人所有。尤其，吉祥及如意型 塔位之面板各僅只有一種，選購塔位使用權者，並無挑 選面板或改變面板之權利，足證被上訴人福座公司並未 販售系爭面板，自無獲利問題。另面板上之圖案是由被 上訴人福座公司設計，而如意型面板被上訴人福座公司 還擁有第38475 號新式樣專利；且依據上訴人提出之合 約書，沒有被上訴人福座公司同意，上訴人不能販售系 爭面板，上訴人既不能販售系爭面板，自無獲利可能， 則亦無損害可言。
⑻上訴人就系爭面板無任何損害：
①上訴人系爭面板專利權，係因被上訴人福座公司出資， 請其依據被上訴人公司提供之1 ：1 系爭面板石膏模型 來開發者，依據專利法第7 條第3 項但書規定，被上訴 人福座公司有權實施系爭面板新型專利。
②系爭面板專利權上訴人已授權惠亞公司據被上訴人福座 公司提供之1 比1 石膏模型翻模製成鋼模後，供被上訴 人公司產製系爭面板之用，足證上訴人已授權被上訴人 公司使用系爭專利權。且依據專利法第105 條準用同法 第57條第1 項第6 款規定，不構成侵害。
③被上訴人福座公司83年5 月25日委託惠亞工程公司製作 之吉祥型及如意型模具契約第2 條明確記載，即「本合 約中甲方（即被上訴人公司）負責提供乙方（即惠亞公 司）製作壓鑄模具所需之模型。」「製作壓鑄模具之模 型或圖面由甲方供應…」。且該約第15條規定「乙方因
承做本模具而知悉甲方業務之機密及本模具之圖形、樣 品、成品，乙方不得銷售或透露於甲方以外之第三人， 否則應罰以本約總金額之罰款為懲罰性違約金。因過失 而致前項之結果時，亦同。」又依據被上訴人公司與惠 亞公司82年9 月1 日協議書第1 條所載「乙方（即惠亞 公司）所承製甲方之所有產品，未經甲方同意不得銷售 及提供樣品予其他同業，且圖樣、模型等相關機密資料 ，亦不得洩漏他人。」上訴人即為惠亞公司負責人，因 惠亞公司與被上訴人公司簽訂契約而取得被上訴人公司 交付之圖樣、石膏模型等，並因此而取得系爭專利權。 但由上開約定所載，上訴人未經被上訴人公司同意根本 不能銷售系爭面板，自無獲利可能，則亦無損害可言。 ⒊上訴人因被上訴人福座公司出資及提供面板圖案及模型，因 而開發取得系爭專利權，被上訴人福座公司依法有權實施該 專利權，無任何侵權行為。且系爭面板係由益隆公司依據被 上訴人福座公司提供之模型研發製造，被上訴人福座公司是 向益隆公司購買使用，無任何銷售販賣獲利情事。上訴人於 刑事訴訟中，既未主張益隆公司或其負責人有侵害其專利權 ，其對被上訴人福座公司提出刑事附帶民事訴訟，顯不合法 亦無理由。
被上訴人林萬出答辯聲明為: ⒈請求駁回上訴。⒉第二審訴訟 費用由上訴人負擔。⒊如受不利判決，請准被上訴人供擔保宣 告免為假執行。並辯稱:
㈠程序方面
本件於原審歷經十年時間，始作成裁判，其間專利法、民事訴 訟法及民法，經多次修訂，但上開法條迄無變更，上訴人於原 審冗長審理期間，有充足機會為追加請求依據暨攻擊防禦方法 等主張，上訴人不此之為，竟於無民事訴訟法第447 條規定情 下，遽為上開追加請求，顯然違背是項規定。
㈡實體方面
⒈原審認定「臺大慶齡工業研究中心之鑑定報告雖有未進行均 等論分析之瑕疵，然其結論認待鑑定物並未落入系爭專利甲 申請專利之範圍，仍屬可採」乙節，係以「經本院依85年版 之專利侵害鑑定基準，就能否適用均等論分析之結果，認系 爭專利甲申請專利範圍與待鑑定物相較，兩者係以實質不相 同之技術手段，達成不相同的功能與效果，故二者非為均等 物，即待鑑定物並未落入系爭專利甲申請專利範圍之均等範 圍內」等理由為前題；上訴人未見及此，斷章取義，藉指摘 原判決有所違誤，洵無理由。
⒉被上訴人林萬出僅為福座開發股份有限公司之董事，上訴人
不應對其一併起訴，且被上訴人並未參與系爭產品之事，又 已離開公司多年，並未侵害上訴人之專利權。
被上訴人許正治經合法通知未曾到場，亦未提出書狀作何陳述 。
兩造不爭執之事實：
㈠上訴人取得第201060號新型專利權（下稱系爭專利）。對第 271768號新型專利權則不再主張權利。
㈡被上訴人福座開發公司及其負責人委託益隆公司製造系爭吉祥 型、天主型、基督型、如意型等塔位面板，雖名稱不同，但構 造均相同。
㈢本件違反專利法刑事部分業經士林地方法院刑事庭判決被上訴 人福座開發公司當時的董事長林萬出、總經理曾慶豐、副總經 理許正治有罪，經被告上訴，第二審因廢除專利刑法，改判免 訴。
本院依民事訴訟法第463 條準用同法第270 條之1 規定與兩造 整理並協議簡化爭點如下（見本院卷第133頁）：㈠系爭被控侵權物（塔櫃面板）是否落入系爭專利申請專利範圍 第1 項？
㈡若有落入，上訴人請求之損害賠償是否合法有據？本院得心證之理由：
㈠系爭專利技術內容：
一種塔櫃表面飾件之固結構造，其大體上係包括有：一面板 (3)，其兩側設有鎖合元件(31 、32) 使可結合於櫃體(2) 上 ，其外面兩側上端設有向下之卡合部(34)，其外面兩側下端設 有向上之彈性卡栓(36)；及二遮擋柱(4) ，係遮蓋於上述面板 之兩側，其上端設有卡合部(41)使與面板之卡合部(34)卡合， 其下端設有一配合上述彈性卡栓(36)之卡槽(42)，使可相互卡 合；藉由以上構造，該遮擋柱將面板上之鎖合元件遮蓋，故整 個櫃體正面皆為一塊塊之面板及兩側之遮擋柱，面板及柱體加 以浮雕設計，使外表非常端莊雅觀，而該彈性卡栓因隱藏於內 ，不相干之人不知如何可打開面板，故可防止他人隨意打開， 卻不需設置鎖具避免破壞視感。
㈡系爭專利申請專利範圍之解釋：
⒈系爭專利請求項共有4 項，其中請求項1 為獨立項，請求項 2 至4 為直接或間接依附於請求項1 之附屬項。因上訴人主 張被侵權者為第1 請求項，故僅分析該請求項之範圍： 一種塔櫃表面飾件之固結構造, 其中該塔櫃係設置成多數格 之放置空間，其大體上係包括有：一面板, 係蓋合上述之放 置空間，其兩側設有鎖合元件使可結合於櫃體上，其外面兩 側上端設有向下之卡合部，其外面兩側下端設有向上之彈性
卡栓；及二遮擋柱，係遮蓋於上述面板之兩側，其上端設有 卡合部使與面板之卡合部卡合，其下端設有一配合上述彈性 卡栓之卡槽，使可相互卡合。
⒉兩造對系爭專利申請專利範圍之解釋並無爭議。㈢被控侵權物技術內容：
⒈被上訴人自認中國機械工程學會之「塔櫃表面飾件」專利侵 害鑑定報告及台大慶齡工業研究中心之「塔櫃表面飾件之固 結結構」專利侵害鑑定報告所附照片中之被控侵權物係其所 有，故本院以照片所示之塔櫃面板分析其技術內容。 ⒉係一種塔櫃表面飾件，其中該塔櫃係設置成多數格之放置空 間；一面板，係蓋合上述之放置空間；面板兩側設有螺孔以 螺絲鎖合，使面板可結合於櫃體上，面板外面兩側緣上、下 端各設有一半圓孔，與相鄰面板之半圓孔形成圓孔；二遮擋 柱，係遮蓋於上述面板之兩側，遮擋柱背面上、下端設有錐 形柱使與面板之圓孔卡合。
㈣被控侵權物未落入系爭專利申請專利範圍（第1 項）： ⒈按專利侵害之鑑定，主要目的在於判斷被控侵權物或方法是 否落入系爭專利之權利範圍。關於其判斷之方法及原則，我 國經濟部智慧財產局於92年間對於原85年1 月公告之「專利 侵害鑑定基準」進行修訂，依據專利法、參考國內外相關審 判實務之見解及國際趨勢，凝聚各界共識，而於93年10 月4 日公告「專利侵害鑑定要點」( 草案) ，並於93年10月5 日 公告原「專利侵害鑑定基準」自該日起停止適用，且於同日 將「專利侵害鑑定要點」( 草案) 函請司法院參考，並經司 法院秘書長於93年11月2 日檢送各法院參考，及臺灣高等法 院奉司法院秘書長函辦理，於93年11月8 日函所屬各法院參 考。故「專利侵害鑑定要點」，雖對法院無拘束力，但足供 法院做為侵害判斷主要參考，至於原「專利侵害鑑定基準」 ，並非專利法就此部分有所修改，而係因其已不合時宜，智 慧財產局始予公告停止使用，因此，法院在做專利侵害判斷 時，無論當事人主張之侵權時間為何，均無再參考「專利侵 害鑑定基準」之餘他，合先說明。
其次，參考「專利侵害鑑定要點」，解析系爭專利申請專利 範圍之技術特徵及解析被控侵權物之技術內容後，要基於全 要件原則（all-elements rule / all-limitations rule） ，判斷被控侵權物是否符合「文義讀取」。若被控侵權物符 合「文義讀取」，而被告未主張適用「逆均等論」，應判斷 被控侵權物落入系爭專利權（文義）範圍；若待鑑定對象不 符合「文義讀取」，應再比對被控侵權物是否適用「均等論 」（doctrine of equivalents ）。而判斷被控侵權物是否
適用「均等論」，仍要基於全要件原則，就被控侵權物與系 爭專利申請專利範圍之對應技術特徵的「技術手段」、「功 能」、「結果」，比對兩者之實質是否相同，若其中之一有 實質不同，則不適用「均等論」，應判斷被控侵權物未落入 系爭專利權範圍；若全部均實質相同，則適用「均等論」， 如被告並未主張適用「禁反言」（prosecution history estoppel）或「先前技術阻卻」時，即應判斷被控侵權物落 入系爭專利權範圍。
⒉被控侵權物與系爭專利請求項1之文義比對分析表： ┌─┬─────────┬─────────┬───┐
│要│系爭專利請求項1 │被控侵權物 │是否文│
│件│ │ │ │
│編│技術特徵 │技術內容 │義讀取│
│號│ │ │ │
├─┼─────────┼─────────┼───┤
│A │1.一種塔櫃表面飾件│一種塔櫃表面飾件；│是 │
│ │ 之固結構造； │ │ │
├─┼─────────┼─────────┼───┤
│B │其中該塔櫃係設置成│其中該塔櫃係設置成│是 │
│ │多數格之放置空間；│多數格之放置空間；│ │
├─┼─────────┼─────────┼───┤
│C │其大體上係包括有：│一面板，係蓋合上述│是 │
│ │一面板，係蓋合上述│之放置空間； │ │
│ │之放置空間； │ │ │
├─┼─────────┼─────────┼───┤
│D │其兩側設有鎖合元件│面板兩側設有螺孔（│是 │
│ │使可結合於櫃體上；│或沉孔）螺絲鎖合，│ │
│ │ │使面板可結合於櫃體│ │
│ │ │上； │ │
├─┼─────────┼─────────┼───┤
│E │其外面兩側上端設有│面板外面兩側緣上、│否 │
│ │向下之卡合部，其外│下端各設有一半圓孔│ │
│ │面兩側下端設有向上│（或凹孔），與相鄰│ │
│ │之彈性卡栓； │面板之半圓孔形成圓│ │
│ │ │孔（配合孔）； │ │
├─┼─────────┼─────────┼───┤
│F │及二遮擋柱，係遮蓋│二遮擋柱，係遮蓋於│是 │
│ │於上述面板之兩側；│上述面板之兩側； │ │
├─┼─────────┼─────────┼───┤
│G │其上端設有卡合部使│遮擋柱背面上、下端│否 │
│ │與面板之卡合部卡合│設有錐形柱（或錐形│ │
│ │，其下端設有一配合│彈性體）使與面板 │ │
│ │上述彈性卡栓之卡槽│之圓孔卡合。 │ │
│ │，使可相互卡合。 │ │ │
└─┴─────────┴─────────┴───┘
⒊被控侵權物與系爭專利請求項1之文義比對分析說明： ⑴經解析系爭專利請求項1 範圍，其技術內容可解析為7 個 要件，分別為：要件編號A 「一種塔櫃表面飾件之固結構 造」；要件編號B 「其中該塔櫃係設置成多數格之放置空 間」；要件編號C 「其大體上係包括有: 一面板，係蓋合 上述之放置空間」；要件編號D 「其兩側設有鎖合元件使 可結合於櫃體上」；要件編號E 「其外面兩側上端設有向 下之卡合部，其外面兩側下端設有向上之彈性卡栓」；要 件編號F 「及二遮擋柱, 係遮蓋於上述面板之兩側」；要 件編號G 「其上端設有卡合部使與面板之卡合部卡合，其 下端設有一配合上述彈性卡栓之卡槽，使可相互卡合」。 ⑵被控侵權物經對應系爭專利請求項1 各要件解析其技術內 容，可對應解析為7 個要件，分別為：要件編號A 「一種 塔櫃表面飾件」；要件編號B 「其中該塔櫃係設置成多數 格之放置空間」；要件編號C 「一面板, 係蓋合上述之放 置空間」；要件編號D 「面板兩側設有螺孔( 或沉孔) 以 螺絲鎖合，使面板可結合於櫃體上」；要件編號E 「面板 外面兩側緣上、下端各設有一半圓孔( 或凹孔) ，與相鄰 面板之半圓孔形成圓孔( 或配合孔) ；」；要件編號F 「 二遮擋柱, 係遮蓋於上述面板之兩側」；要件編號G 「遮 擋柱背面上、下端設有錐形柱( 或錐形彈性體) 使與面板 之圓孔卡合」。
⑶從上述文義比對分析表，可判斷從被控侵權物可以讀取系 爭專利請求項1 之要件編號A 「一種塔櫃表面飾件之固結 構造」；要件編號B 「其中該塔櫃係設置成多數格之放置 空間」；要件編號C 「其大體上係包括有: 一面板, 係蓋 合上述之放置空間」；要件編號F 「及二遮擋柱, 係遮蓋 於上述面板之兩側」之文義。且由兩造之主張，可知對此 亦無爭議。
按申請專利範圍所載之技術特徵係上位概念總括用語，而 被控侵權物對應者係相應的下位概念時，應判斷被控侵權 物符合「文義讀取」。本件系爭專利則使用鎖合元件，而 被控侵權物使用螺孔與螺，兩者顯有上下位概念，故被控 侵權物可以讀取要件編號D 「其兩側設有鎖合元件使可結 合於櫃體上」之文義。
⑷又由上述文義比對分析表，可知被控侵權物之面板外面兩 側緣上、下端各設有一半圓孔( 或凹孔) ，與相鄰面板之 半圓孔形成圓孔( 或配合孔) ，而系爭專利請求項1 要件 編號E 之面板外面兩側上端設有向下之卡合部，面板外面 兩側下端設有向上之彈性卡栓，卡合部或彈性卡栓與半圓 孔之構造及設置位置皆不同，故從被控侵權物不能讀取系 爭專利請求項1 要件編號E 「其外面兩側上端設有向下之 卡合部，其外面兩側下端設有向上之彈性卡栓」之文義； 被控侵權物之遮擋柱背面上、下端設有錐形柱( 或錐形彈 性體) 使與面板之圓孔卡合。另系爭專利請求項1 要件編 號G 之遮擋柱上端設有卡合部使與面板之卡合部卡合，下 端設有一配合上述彈性卡栓之卡槽，卡合部或卡槽與錐形 柱之構造及設置位置皆不同，故從被控侵權物亦不能讀取 系爭專利請求項1 要件編號G 「其上端設有卡合部使與面 板之卡合部卡合，其下端設有一配合上述彈性卡栓之卡槽 , 使可相互卡合」之文義。
⑸基上，被控侵權物要件編號A 、B 、C 、D 、F 之技術內 容已分別落入系爭專利編號A 、B 、C 、D 、F 之文義範 圍，但編號E 、G 則未落入系爭專利編號E 、G 之文義範 圍。基於全要件原則，仍應判定被控侵權物並未落入系爭 專利申請專利範圍第1 項之文義範圍，須進一步判斷要件 編號E 、G 兩者之差異是否適用「均等論」。
⒋被控侵權物與系爭專利請求項1 要件編號E 之均等比對分析 表：
┌───┬──────────┬─────────┬─┐
│ │系爭專利請求項1 │被控侵權物 │是│
│ │ │ │否│
│ │要件編號E │要件編號E │相│
│ │ │ │同│
├───┼──────────┼─────────┼─┤
│技術特│面板外面兩側上端設有│面板外面兩側緣上、│ │
│徵之差│向下之卡合部，面板外│下端各設有一半圓孔│－│
│異 │面兩側下端設有向上之│（或凹孔），與相鄰│ │
│ │彈性卡栓 │面板之半圓孔形成圓│ │
│ │ │孔（或配合孔） │ │
├───┼──────────┼─────────┼─┤
│技術手│彈性卡栓及卡合部之設│半圓孔之設置位置於│實│
│段（wa│置位置於面板外面兩側│面板外面兩側緣上、│質│
│y） │下端及上端，其設置形│下端，其設置形態呈│不│
│ │態呈上下相對之卡合狀│上下平行狀 │相│
│ │ │ │同│
├───┼──────────┼─────────┼─┤
│功能 │彈性卡栓及卡合部之設│半圓孔之設置位置與│實│
│（func│置位置與形態呈卡合狀│形態呈上下平行狀，│質│
│tion）│，上下夾持遮擋柱，遮│遮擋柱背面插設於半│不│
│ │擋柱移除方向垂直於夾│圓孔，遮擋柱移除方│相│
│ │持方向 │向平行於插設方向 │同│
├───┼──────────┼─────────┼─┤
│結果 │打開面板時，遮擋柱移│打開面板時，遮擋柱│實│
│（ │除方向垂直於夾持方向│移除方向平行於插設│質│
│result│，可上下卡合遮檔柱 │方向，無法上下卡合│不│
│） │ │遮檔柱 │相│
│ │ │ │同│
└───┴──────────┴─────────┴─┘
⒌被控侵權物與系爭專利請求項1 要件編號E均等分析說明： 由上述均等分析比對表，可知被控侵權物要件編號E 「面板 外面兩側緣上、下端各設有一半圓孔( 或凹孔) ，與相鄰面 板之半圓孔形成圓孔( 或配合孔) 」與系爭專利請求項1 要 件編號F 「面板外面兩側上端設有向下之卡合部，面板外面 兩側下端設有向上之彈性卡栓」，兩者係係以實質不相同之 技術手段，達成不相同的功能與效果，故二者實質不相同， 非為均等物。
⒍被控侵權物與系爭專利請求項1 要件編號G 之均等比對分析 表：
┌───┬─────────┬─────────┬─┐
│ │系爭專利請求項1 │被控侵權物 │是│
│ │要件編號G │要件編號G │否│
│ │ │ │相│
│ │ │ │同│
├───┼─────────┼─────────┼─┤
│技術特│遮擋柱上端設有卡合│遮擋柱背面上、下端│－│
│徵之差│部使與面板之卡合部│設有錐形柱（或錐形│ │
│異 │卡合，下端設有一配│彈性體）使與面板之│ │
│ │合上述彈性卡栓之卡│圓孔卡合 │ │
│ │槽 │ │ │
├───┼─────────┼─────────┼─┤
│技術手│卡合部及彈性卡栓之│遮擋柱背面上、下端│實│
│段（ │設置位置於遮擋柱上│設有錐形柱 │質│
│way） │端下端及上端，其設│ │不│
│ │置形態呈上下相對之│ │相│
│ │卡合狀 │ │同│
├───┼─────────┼─────────┼─┤
│功能 │彈性卡栓及卡合部之│錐形柱之設置位置與│實│
│（ │設置位置與形態呈卡│形態呈上下平行狀，│質│
│functi│合狀，上下夾持遮擋│插設於半圓孔，遮擋│不│
│on） │柱，遮擋柱移除方向│柱移除方向平行於插│相│
│ │垂直於夾持方向 │設方向 │同│
│ │ │ │ │
├───┼─────────┼─────────┼─┤
│結果 │打開面板時，遮擋柱│打開面板時，遮擋柱│實│
│（ │移除方向垂直於夾持│移除方向平行於插設│質│
│result│方向，可上下卡合遮│方向，無法上下卡合│不│
│） │檔柱 │遮檔柱 │相│
│ │ │ │同│
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⒎被控侵權物與系爭專利請求項1 要件編號G 均等分析說明： ⑴從上述均等比對表，可知被控侵權物要件編號G 「遮擋柱 背面上、下端設有錐形柱( 或錐形彈性體) 使與面板之圓 孔卡合」與系爭專利請求項1 要件編號G 「遮擋柱上端設 有卡合部使與面板之卡合部卡合，下端設有一配合上述彈 性卡栓之卡槽」，兩者係係以實質不相同之技術手段，達 成不相同的功能與效果，故二者非為均等物。
⑵按「均等論」比對應以解析後申請專利範圍之技術特徵與 待鑑定對象之對應元件、成分、步驟或其結合關係中不符 合文義讀取之技術內容逐一比對（element by element ），不得以申請專利範圍之整體（as a whole）與待鑑定 對象比對。本件上訴人雖有論述三步測試法如技術手段（ way ）、功能（function）、結果（result）為比對，惟 其係以系爭專利請求項1 之整體技術特徵，與被控侵權物 比對，而非針對不符文義讀取之要件編號E 、G 之技術內 容逐一比對。是上訴人均等之分析並不正確，其結論即非 可採。
⒏基上說明，基於全要件原則，被控侵權物要件編號A 、B 、 C、 D 、F 之技術內容，雖已分別落入系爭專利編號A 、B 、C 、D 、F 之文義範圍，但編號E 、G 則未落入系爭專利 編號E 、G 之文義範圍。經進一步就技術手段、功能與結果 ，分別進行比對，判斷被控侵權物要件編號E 、G 與系爭專 利編號E 、G 之實質均不相同，非為均等物。亦即本件被控 侵權物，並未落入系爭專利申請專利範圍第1項。㈤中國機械工程學會之「塔櫃表面飾件」專利侵害鑑定報告不可
採：
⒈該鑑定報告未依全要件原則（all-elements rule /all -limitations rule ），判斷待鑑定對象是否符合「文義讀 取」。
所謂「全要件原則」，係指請求項中每一技術特徵完全對應 表現（express） 在待鑑定對象中，包括文義的表現及均等 的表現。鑑定報告第5 頁表三，對於「面板」在是否符合的 欄位上提出「…待鑑定之錐形彈性體並未見於本專利，故待 鑑定物特徵，部分相同於本專利對面板3 之文詞定義」，對 於「遮檔柱」在是否符合的欄位上提出「部分符合，待鑑定 物與本專利雖皆為柱體，但上下端並無如卡塊41、卡槽42者 ，而本專利背部也少如錐形彈性體者，故兩者之特徵與文義 為部分相符合」，該鑑定報告解析待鑑定對象之技術內容顯 非基於全要件原則，正確者應以系爭專利申請專利範圍第1 項之「一面板，係蓋合上述之放置空間，其兩側設有鎖合元 件使可結合於櫃體上，其外面兩側上端設有向下之卡合部， 其外面兩側下端設有向上之彈性卡栓；及二遮擋柱，係遮蓋 於上述面板之兩側，其上端設有卡合部使與面板之卡合部卡 合，其下端設有一配合上述彈性卡栓之卡槽，使可相互卡合 」之技術特徵，是否表現在待鑑定物之面板及遮擋柱上，始 為正確。至於待鑑定物之錐形彈性體，其係屬「遮檔柱」的 結構特徵，並非屬「面板」之特徵，自然非屬系爭專利申請 專利範圍第1 項「面板」要件所應比對的範疇。又系爭專利 申請專利範圍並未界定遮檔柱背部具有錐形彈性體等特徵， 待鑑定對象中與申請專利範圍之技術特徵無關的元件、成分 、步驟或其結合關係不得納入比對內容，自非屬比對之範疇 。
⒉該鑑定報告未符合全要件原則（all-elements rule /all- limitations rule）之前提下，其「均等論」之結論自不足 採。
按「均等論」之成立要件，依鑑定要點第40頁所載，相對於 申請專利範圍之技術特徵，待鑑定對象之元件、成分、步驟 或其結合關係的改變或替換未產生實質差異（substantial difference）時，則適用「均等論」。適用「均等論」須先 符合「全要件原則」，始有成立可能。於該鑑定報告未符合 全要件原則（all- elements rule / all-limitations rule）之前提下，其「均等論」之結論自不足採。㈥國立台北技術學院機械工程技術系之鑑定報告（I ）「塔櫃表 面飾件」不可採：
⒈該鑑定報告未依全要件原則（all-elements rule / all-
limitations rule），判斷待鑑定對象是否符合「文義讀取 」。鑑定報告I-1/2 至I-2/2 頁次所附之表格中，將系爭專 利1 之第1-4 項之全部申請專利範圍與B 產品之技術內容作 比較。然查，申請專利範圍有多項時，仍應就每一項之技術 特徵分別與待鑑定物作比對，該報告將申請專利範圍第1-4 項全部技術內容與B 產品比對，並非屬合宜的比對程序。又 該報告中並未對於系爭專利申請專利範圍之要件解析提出說 明，其比對了申請專利範圍之哪些構成要件，尚難由該報告 看出。該鑑定報告解析待鑑定對象之技術內容顯非基於全要 件原則，正確者應以系爭專利申請專利範圍第1 項之技術特 徵，是否表現在待鑑定物上，始為正確。
⒉該鑑定報告未符合全要件原則（all-elements rule /all- limitations rule）之前提下，其「均等論」之結論自不足 採。
按適用「均等論」須先符合「全要件原則」，始有成立可能 。該鑑定報告未符合全要件原則（all- elements rule / all-limitations rule）之前提下，其「均等論」之結論自 不足採。
⒊另該鑑定報告在I-2/2 中2.相關陳述及二、鑑定結論中均表 示「B 產品與系爭專利1 之技術內容之組合方式、面板與相
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